Leiterplattenvorrichtung zur Waferuntersuchung, Prüfkarte und Waferuntersuchungsvorrichung
EP1965422
Art A1
3. September 2008
Anmelder: JSR Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1965422
- Aktenzeichen
- EP06842922
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2006
- Veröffentlichung
- 3. September 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66G01R1/073// H01R13/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
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