Optische Abtasteinrichtung, Mikroskop des Optischen Abtasttyps, Beobachtungsverfahren, Steuereinrichtung und Steuerprogramm
EP1970744
Art A1
17. September 2008
Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1970744
- Aktenzeichen
- EP06834081
- Anmeldetag
- 6. Dezember 2006
- Veröffentlichung
- 17. September 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/06G02B21/00G02B26/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NIKON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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Vertreten von
Petzold, Silke
Ladenburg, Deutschland
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