Verfahren zur zweidimensionalen Messung der Position eines Gegenstands

EP1972901 Art A1 24. September 2008

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1972901
Aktenzeichen: EP07104445
Anmeldetag: 20. März 2007
Veröffentlichung: 24. September 2008
Rechtsraum: EP
IPC: G01D5/347// G01D5/245

Offizieller Volltext

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Anmelder

Firmen: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Recherche et Développement
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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