Optisches Wellenformmesssystem und optisches Wellenformmessverfahren
EP1972912
Art A3
6. Mai 2009
Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1972912
- Aktenzeichen
- EP08002885
- Anmeldetag
- 15. Februar 2008
- Veröffentlichung
- 6. Mai 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J11/00G01R13/34H04B10/17H04L7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJITSU LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
17.891 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München