Kalibrierung eines ESD-Testsystems
EP1972952
Art A1
24. September 2008
Anmelder: IMEC, Hanwa Electronics Ind. Co. Ltd., Hanwa Electronics Inc. Co. Ltd., Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw, INTERUNIVERSITAIR MICRO-ELEKTRONICA CENTRUM VZW 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1972952
- Aktenzeichen
- EP07116438
- Anmeldetag
- 14. September 2007
- Veröffentlichung
- 24. September 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/00G01R35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
Hanwa Electronics Ind. Co. Ltd.
Hanwa Electronics Inc. Co. Ltd.
Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw
INTERUNIVERSITAIR MICRO-ELEKTRONICA CENTRUM VZW - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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Fachgebiete
Vertreten von
Sarlet, Stephanie
Diegem, Belgien
245
Patente gesamt
27
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Sarlet, Steven Renaat Irène
NoneDiegem