Kalibrierung eines ESD-Testsystems
EP1972953
Art B1
3. Mai 2017
Anmelder: IMEC VZW, Hanwa Electronics Ind. Co. Ltd., IMEC, Hanwa Electronics Inc. Co. Ltd., Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw, Interuniversitair Microelectronica Centrum vzw (IMEC) 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1972953
- Aktenzeichen
- EP08152960
- Anmeldetag
- 18. März 2008
- Veröffentlichung
- 3. Mai 2017
- Erteilung
- 3. Mai 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/00G01R35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC VZW
Hanwa Electronics Ind. Co. Ltd.
IMEC
Hanwa Electronics Inc. Co. Ltd.
Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw
Interuniversitair Microelectronica Centrum vzw (IMEC) - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
2.629 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Sarlet, Stephanie
Diegem, Belgien
245
Patente gesamt
27
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Sarlet, Steven Renaat Irène
NoneDiegem