Vorrichtung, Verfahren und Programm zum Messen der Oberflächenbeschaffenheit

EP1975557 Art B1 2. Juni 2010

Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1975557
Aktenzeichen
EP08005692
Anmeldetag
26. März 2008
Veröffentlichung
2. Juni 2010
Erteilung
2. Juni 2010
Rechtsraum
EP
IPC
G01B21/04
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Mitutoyo Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Mitutoyo Corporation

Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.

688 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen