Vorrichtungen und Verfahren zur Überprüfung und Bewertung von Elektromigration
EP1978371
Art A1
8. Oktober 2008
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1978371
- Aktenzeichen
- EP07290395
- Anmeldetag
- 2. April 2007
- Veröffentlichung
- 8. Oktober 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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Fachgebiete
Vertreten von
de Jong, Durk Jan
Eindhoven, Niederlande
217
Patente gesamt
10
Fachgebiete
5
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Schwerpunkte