Testapparat

EP1978527 Art B1 13. Oktober 2010

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1978527
Aktenzeichen
EP07714381
Anmeldetag
16. Februar 2007
Veröffentlichung
13. Oktober 2010
Erteilung
13. Oktober 2010
Rechtsraum
EP
IPC
G11C29/56G01R31/28
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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