Erkennung einer Zustandsstörung eines bistabilen Kippschalters eines elektronischen Schaltkreises
EP1993057
Art B1
20. Oktober 2010
Anmelder: STMicroelectronics (Rousset) SAS 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1993057
- Aktenzeichen
- EP08156078
- Anmeldetag
- 13. Mai 2008
- Veröffentlichung
- 20. Oktober 2010
- Erteilung
- 20. Oktober 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F21/02G06F21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics (Rousset) SAS
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
STMicroelectronics (Rousset)
Französischer Produktionsstandort des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics in Rousset. Der Standort fertigt integrierte Schaltkreise und Halbleiterbauelemente für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.
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de Beaumont, Michel
Grenoble, Frankreich
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