System und Verfahren zur Beurteilung Feindlicher Absichten
EP1994427
Art A2
26. November 2008
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1994427
- Aktenzeichen
- EP07808991
- Anmeldetag
- 8. März 2007
- Veröffentlichung
- 26. November 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S13/66G01S13/00G01S13/72
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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Jones, Graham Henry
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