Optoelektronisches lagemessverfahren und optoelektronische lagemesseinrichtung
EP1995567
Art A1
26. November 2008
Anmelder: Leica Geosystems AG 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1995567
- Aktenzeichen
- EP07108837
- Anmeldetag
- 24. Mai 2007
- Veröffentlichung
- 26. November 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/347
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Geosystems AG
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
Leica Geosystems
Schweizer Hersteller von Vermessungs- und Geoinformationstechnik, entwickelt Instrumente und Software für Landvermessung, Bauwesen und geografische Datenerfassung.
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