Nanostrukturierter Diffraktionsfilter nullter Ordnung

EP1998193 Art A1 3. Dezember 2008

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1998193
Aktenzeichen: EP08104421
Anmeldetag: 25. Mai 2007
Veröffentlichung: 3. Dezember 2008
Rechtsraum: EP
IPC: G02B5/20// G02B5/18

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Anmelder

Firmen: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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