Vorrichtung und Verfahren zur Messung des Profils von Elektronischen Strahlen und Laserstrahlen
EP1998601
Art B1
5. März 2014
Anmelder: IHI Corporation, The University of Tokyo, National Institute of Radiological Sciences 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1998601
- Aktenzeichen
- EP07737924
- Anmeldetag
- 7. März 2007
- Veröffentlichung
- 5. März 2014
- Erteilung
- 5. März 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H05G2/00G01T1/29G21K5/04
Abstract
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Anmelder
- Firmen
- IHI Corporation
The University of Tokyo
National Institute of Radiological Sciences - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
IHI Corporation
Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.
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🇯🇵
University of Tokyo
Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.
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