Winkelmesssystem
EP2000767
Art B1
24. Juni 2015
Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2000767
- Aktenzeichen
- EP08009491
- Anmeldetag
- 23. Mai 2008
- Veröffentlichung
- 24. Juni 2015
- Erteilung
- 24. Juni 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S17/42G01C15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha TOPCON
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kabushiki Kaisha Topcon
Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.
599 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Köhler, Walter
Nürnberg, Deutschland
333
Patente gesamt
29
Fachgebiete
14
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Schwerpunkte