Spektrometrisches Messsystem und Verfahren zur Kompensation von Falschlicht
EP2002225
Art A1
17. Dezember 2008
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl Zeiss MicroImaging GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2002225
- Aktenzeichen
- EP07723178
- Anmeldetag
- 12. März 2007
- Veröffentlichung
- 17. Dezember 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J3/28G01J3/36G01J3/51
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl Zeiss MicroImaging GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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Fachgebiete
Vertreten von
Kintzel, Klaus-Peter
Jena, Deutschland
22
Patente gesamt
5
Fachgebiete
1
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Schwerpunkte