Defektinspektionsvorrichtung und -Verfahren

EP2006676 Art B1 4. März 2020

Anmelder: IHI Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2006676
Aktenzeichen
EP06729926
Anmeldetag
24. März 2006
Veröffentlichung
4. März 2020
Erteilung
4. März 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G01N29/28G01N29/265
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
IHI Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 IHI Corporation

Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.

1.709 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen