Testgerät und Testverfahren

EP2006698 Art B1 24. März 2010

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2006698
Aktenzeichen
EP08075805
Anmeldetag
11. Oktober 2005
Veröffentlichung
24. März 2010
Erteilung
24. März 2010
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/3187G01R31/30
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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