Verfahren zur Charakterisierung elektronischer Schaltungen unter Prozessvariabilitätseffekten

EP2006784 Art A1 24. Dezember 2008

Anmelder: IMEC VZW, IMEC, Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2006784
Aktenzeichen
EP08158713
Anmeldetag
20. Juni 2008
Veröffentlichung
24. Dezember 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G06F17/50
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
IMEC VZW
IMEC
Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

2.629 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen