Wellenlängen- und Intensitätsstandard für Spektrometer
EP2009424
Art A1
31. Dezember 2008
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl Zeiss MicroImaging GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2009424
- Aktenzeichen
- EP08010945
- Anmeldetag
- 17. Juni 2008
- Veröffentlichung
- 31. Dezember 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/27
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl Zeiss MicroImaging GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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Fachgebiete
Vertreten von
Kintzel, Klaus-Peter
Jena, Deutschland
22
Patente gesamt
5
Fachgebiete
1
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