Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Temperatur eines Halbleitersubstrats
EP2010880
Art B1
14. Oktober 2009
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2010880
- Aktenzeichen
- EP07735544
- Anmeldetag
- 19. April 2007
- Veröffentlichung
- 14. Oktober 2009
- Erteilung
- 14. Oktober 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01K7/32G01K7/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
7.918 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Schouten, Marcus Maria
Eindhoven, Niederlande
3.201
Patente gesamt
30
Fachgebiete
16
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Röggla, Harald
NoneWien