Verfahren und Vorrichtung für Prüfung und Fehleranalyse
EP2012353
Art A3
20. Februar 2013
Anmelder: Renesas Electronics Corporation, NEC Electronics Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2012353
- Aktenzeichen
- EP08011597
- Anmeldetag
- 26. Juni 2008
- Veröffentlichung
- 20. Februar 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66H01L21/00G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Renesas Electronics Corporation
NEC Electronics Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Renesas Electronics
Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Tokio, spezialisiert auf Mikrocontroller, analoge Bauelemente und Halbleiterlösungen unter anderem für die Automobil- und Industrieelektronik.
1.103 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
27.362 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Merkau, Bernhard
München, Deutschland
39
Patente gesamt
17
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte