Sonde und Verfahren zum Prüfen
EP2013633
Art B1
25. August 2010
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2013633
- Aktenzeichen
- EP07761858
- Anmeldetag
- 3. Mai 2007
- Veröffentlichung
- 25. August 2010
- Erteilung
- 25. August 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28G01R1/067
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Brinck, David John Borchardt
London, Großbritannien
308
Patente gesamt
23
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14
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Schwerpunkte