Sehtestmuster-Indikator

EP2014221 Art B1 2. November 2011

Anmelder: Nidek Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2014221
Aktenzeichen
EP07742160
Anmeldetag
23. April 2007
Veröffentlichung
2. November 2011
Erteilung
2. November 2011
Rechtsraum
EP
IPC
A61B3/02A61B3/08
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Nidek Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nidek

Nidek ist ein japanischer Hersteller ophthalmologischer Geräte, etwa für Diagnostik und Laserbehandlung am Auge. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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