Röntgenstrahlungsabbildungsvorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung

EP2026383 Art A3 5. August 2009

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement, CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2026383
Aktenzeichen: EP08162513
Anmeldetag: 18. August 2008
Veröffentlichung: 5. August 2009
Rechtsraum: EP
IPC: H01L27/146

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Anmelder

Firmen: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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