Reflektorvorrichtung für Strahlen geladener Teilchen und Elektronenmikroskop

EP2048690 Art A3 15. Dezember 2010

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2048690
Aktenzeichen
EP08253293
Anmeldetag
9. Oktober 2008
Veröffentlichung
15. Dezember 2010
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/153H01J37/26H01J37/28H01J49/40
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Kabushiki Kaisha TOPCON
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Kanzlei
Withers & Rogers München, Deutschland

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