Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Frequenz eines Signalkodierten Modulierten Trägersignals
EP2052266
Art B1
28. Februar 2018
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2052266
- Aktenzeichen
- EP07805284
- Anmeldetag
- 2. August 2007
- Veröffentlichung
- 28. Februar 2018
- Erteilung
- 28. Februar 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R23/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
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Schouten, Marcus Maria
NoneEindhoven
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Röggla, Harald
NoneWien