Verfahren zur Verbesserung der Mobilität einer Inversionsschicht in einem Siliciumcarbid-Mosfet

EP2062289 Art B1 26. Oktober 2011

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2062289
Aktenzeichen
EP07826201
Anmeldetag
29. August 2007
Veröffentlichung
26. Oktober 2011
Erteilung
26. Oktober 2011
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/04H01L29/161
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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