Verfahren und Anordnung zur Optischen Vermessung des Oberflächenprofils von Objekten
EP2073751
Art A1
1. Juli 2009
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2073751
- Aktenzeichen
- EP07787511
- Anmeldetag
- 13. Juli 2007
- Veröffentlichung
- 1. Juli 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61C19/04G01B11/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
770 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Hassenbürger, Anneliese
Wetzlar, Deutschland
32
Patente gesamt
7
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte