Verfahren und System zur Analyse von Plantendenzen
EP2082320
Art A2
29. Juli 2009
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2082320
- Aktenzeichen
- EP07863745
- Anmeldetag
- 1. November 2007
- Veröffentlichung
- 29. Juli 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F9/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Lawrence, John
Birmingham, Großbritannien
4.152
Patente gesamt
34
Fachgebiete
40
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Ljungberg, Robert
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