Elektronenmikroskop zur Erfassung von Niedrigspannungsfeldemissionen
EP2091065
Art A1
19. August 2009
Anmelder: ETH Zurich 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2091065
- Aktenzeichen
- EP08002916
- Anmeldetag
- 18. Februar 2008
- Veröffentlichung
- 19. August 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/285H01J37/28H01J37/244
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ETH Zurich
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
ETH Zürich
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, Schweizer Hochschule mit Forschungsschwerpunkten in Natur-, Ingenieur- und Materialwissenschaften.
996 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.