Verfahren zur Zuschneidung der Oberflächentopographie eines Nanokristallinen oder Amorphen Metalls oder einer Nanokristallinen oder Amorphen Legierung und Mithilfe Dieser Verfahren Hergestellte Artikel
EP2092092
Art A1
26. August 2009
Anmelder: MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2092092
- Aktenzeichen
- EP07875205
- Anmeldetag
- 14. November 2007
- Veröffentlichung
- 26. August 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C25F3/14C25F3/08C25D5/48C25D5/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Massachusetts Institute of Technology
US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.
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Vertreten von
Popp, Eugen
München, Deutschland
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