Bildsensor für die Messung von Invarianten wie den Kontrasten und Methode zur Durchführung einer solchen Messung

EP2093996 Art A1 26. August 2009

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2093996
Aktenzeichen
EP08151781
Anmeldetag
22. Februar 2008
Veröffentlichung
26. August 2009
Rechtsraum
EP
IPC
H04N3/15
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
Land
🇨🇭 Schweiz
🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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