Bildsensor für die Messung von Invarianten wie den Kontrasten und Methode zur Durchführung einer solchen Messung
EP2093996
Art A1
26. August 2009
Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2093996
- Aktenzeichen
- EP08151781
- Anmeldetag
- 22. Februar 2008
- Veröffentlichung
- 26. August 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N3/15
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.
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Fachgebiete
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