Verfahren zur Herstellung von Prüfchips und Musterdetektionsverfahren

EP2101166 Art A1 16. September 2009

Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2101166
Aktenzeichen: EP09002752
Anmeldetag: 26. Februar 2009
Veröffentlichung: 16. September 2009
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/55G01N21/65

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: FUJIFILM Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von