Messvorrichtung und Messverfahren
EP2116838
Art A1
11. November 2009
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2116838
- Aktenzeichen
- EP08704167
- Anmeldetag
- 30. Januar 2008
- Veröffentlichung
- 11. November 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/35G01N21/01H01L31/0232
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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