Autoteststruktur und Verfahren zum Testen einer Digitalen Schnittstelle
EP2122836
Art A1
25. November 2009
Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2122836
- Aktenzeichen
- EP08713943
- Anmeldetag
- 24. Januar 2008
- Veröffentlichung
- 25. November 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
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Fachgebiete
Vertreten von
Ferro, Frodo Nunes
Toulouse, Frankreich
677
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24
Fachgebiete
5
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