Verwendung von Spektren zur Bestimmung von Polierendpunkten
EP2125291
Art A2
2. Dezember 2009
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2125291
- Aktenzeichen
- EP08730580
- Anmeldetag
- 22. Februar 2008
- Veröffentlichung
- 2. Dezember 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B24B37/013B24B49/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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