Verfahren zur Abbildung der Strahlung eines Objekts auf einer Detektorvorrichtung und Inspektionsvorrichtung zur Inspektion eines Objekts

EP2130030 Art B1 24. November 2010

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2130030
Aktenzeichen
EP08723915
Anmeldetag
21. März 2008
Veröffentlichung
24. November 2010
Erteilung
24. November 2010
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/94G01N21/88G01N21/956G01N21/95
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen