Fehlererkennungsvorrichtung mit Niedrigleistungsmodus und Entsprechendes Verfahren
EP2130123
Art B1
3. November 2010
Anmelder: Microchip Technology Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2130123
- Aktenzeichen
- EP08744355
- Anmeldetag
- 26. März 2008
- Veröffentlichung
- 3. November 2010
- Erteilung
- 3. November 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/16G06F1/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Microchip Technology Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Microchip Technology
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Chandler, Arizona, bekannt für Mikrocontroller und analoge Halbleiterbauelemente.
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Vertreten von
Grubert, Andreas
München, Deutschland
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