Verfahren und System zur Messung der Dicke einer Beschichtung
EP2131144
Art A1
9. Dezember 2009
Anmelder: United Technologies Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2131144
- Aktenzeichen
- EP09250805
- Anmeldetag
- 23. März 2009
- Veröffentlichung
- 9. Dezember 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06G01B11/25B28B17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- United Technologies Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
RTX Corporation
US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungskonzern, entstanden aus Raytheon und United Technologies. Entwickelt und fertigt Triebwerke, Avionik, Radarsysteme, Raketen- und Verteidigungstechnik für zivile und militärische Kunden.
10.206 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Leckey, David Herbert
London, Großbritannien
4.791
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
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Schwerpunkte