Prüfbare Integrierte Schaltung und Verfahren zur Generierung von Testdaten
EP2135104
Art B1
20. Oktober 2010
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2135104
- Aktenzeichen
- EP08737705
- Anmeldetag
- 3. April 2008
- Veröffentlichung
- 20. Oktober 2010
- Erteilung
- 20. Oktober 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3183
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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Fachgebiete
Vertreten von
Williamson, Paul Lewis
Eindhoven, Niederlande
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