Systeme und Verfahren für Räumlich Isolierte Dissektion, Klassifikation und Messung von Artefakten
EP2137976
Art B1
7. Juni 2017
Anmelder: Tektronix, Inc., TEKTRONIX, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2137976
- Aktenzeichen
- EP08745323
- Anmeldetag
- 8. April 2008
- Veröffentlichung
- 7. Juni 2017
- Erteilung
- 7. Juni 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tektronix, Inc.
TEKTRONIX, INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Clarke, Jeffrey
Sheffield, Großbritannien
412
Patente gesamt
15
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
HGF
HGF · München
-
HGF Limited
HGF Limited · Den Haag