Mehrpunktmessverfahren und Abfrageinstrument
EP2141451
Art B1
30. September 2015
Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2141451
- Aktenzeichen
- EP08740843
- Anmeldetag
- 18. April 2008
- Veröffentlichung
- 30. September 2015
- Erteilung
- 30. September 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C15/00G01C7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha TOPCON
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kabushiki Kaisha Topcon
Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.
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Vertreten von
Neobard, William John
London, Großbritannien
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