Verfahren zur Messung einer mehrschichtigen Struktur und Vorrichtung zur Messung einer mehrschichtigen Struktur

EP2144034 Art A1 13. Januar 2010

Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2144034
Aktenzeichen
EP09163477
Anmeldetag
23. Juni 2009
Veröffentlichung
13. Januar 2010
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02G01B11/06A61B3/10
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Canon Kabushiki Kaisha
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Canon

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.

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