Verfahren zur Messung einer mehrschichtigen Struktur und Vorrichtung zur Messung einer mehrschichtigen Struktur
EP2144034
Art A1
13. Januar 2010
Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2144034
- Aktenzeichen
- EP09163477
- Anmeldetag
- 23. Juni 2009
- Veröffentlichung
- 13. Januar 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G01B11/06A61B3/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Canon Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Canon
Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.
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Vertreten von
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