Sperrschicht-Photospannungsverfahren und -Vorrichtung zur Kontaktlosen Bestimmung des Flächenwiderstands und des Kriechstroms eines Halbleiters
EP2149054
Art B1
21. März 2012
Anmelder: IMEC 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2149054
- Aktenzeichen
- EP08826185
- Anmeldetag
- 19. Mai 2008
- Veröffentlichung
- 21. März 2012
- Erteilung
- 21. März 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/265
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IMEC
- Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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