Instrument und Verfahren zur Oberflächenstrukturmessung

EP2149774 Art B1 19. Januar 2011

Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2149774
Aktenzeichen: EP09166419
Anmeldetag: 27. Juli 2009
Veröffentlichung: 19. Januar 2011
Erteilung: 19. Januar 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G01B5/00G01B5/20G01B5/28B23Q1/54

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Mitutoyo Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Mitutoyo Corporation

Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.

688 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

Vertreten von