Verbessertes Interferometrisches Nachweissystem und -Verfahren
EP2160590
Art A1
10. März 2010
Anmelder: VANDERBILT UNIVERSITY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2160590
- Aktenzeichen
- EP08755681
- Anmeldetag
- 16. Mai 2008
- Veröffentlichung
- 10. März 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/45
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- VANDERBILT UNIVERSITY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Vanderbilt University
Private Forschungsuniversität in Nashville, Tennessee, USA, bekannt für Programme in Medizin, Recht und Ingenieurwissenschaften.
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Vertreten von
Bradley, Adrian
London, Großbritannien
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