Testvorrichtung

EP2172968 Art A1 7. April 2010

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2172968
Aktenzeichen
EP08777594
Anmeldetag
25. Juni 2008
Veröffentlichung
7. April 2010
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/66G01R31/28H01L21/677
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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