Einrichtung, Verfahren und Programm zur Messung einer Dreidimensionalen Form und Aufzeichnungsmedium

EP2175232 Art A1 14. April 2010

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2175232
Aktenzeichen
EP08777908
Anmeldetag
4. Juli 2008
Veröffentlichung
14. April 2010
Rechtsraum
EP
IPC
G01B11/25G01B11/245G01B11/255G06T1/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Omron Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.706 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen