Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung einer mit einer Substanz markierten Struktur einer Probe
EP2187212
Art A1
19. Mai 2010
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2187212
- Aktenzeichen
- EP09014279
- Anmeldetag
- 16. November 2009
- Veröffentlichung
- 19. Mai 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N33/542G01N33/68
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Maisch, Thomas
Heidelberg, Deutschland
71
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5
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Hassenbürger, Anneliese
NoneWetzlar